Полное описание
> Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology / ed. B. Bhushan ; ed. B. Bhushan. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2010. - on-line. - (NanoScience and technology). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7. - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 945-956. - Текст : электронный.
ГРНТИ | УДК | |
29.35.43 | 537.533.35 | |
81.13.30 | 620.3 |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Нанотехнологии
Кл.слова (ненормированные): НАНОНАУКА -- НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа:
Bhushan, B.\ed.\
SpringerLink (Online service)
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03535-7
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35/S30-937186)
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28368)>
Шифр в сводном ЭК: c5789e4095353c0f9ba191eddf34ed01
Заказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания