• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices / ed. T. Grasser ; Ed. T. Grasser. - Cham : Springer, 2015. - on-line. - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-08994-2. - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-319-08994-2. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    47.33621.382.019.3

    Кл.слова (ненормированные): ГОРЯЧИЕ НОСИТЕЛИ -- ДЕГРАДАЦИЯ -- ДЕФЕКТЫ -- НАДЕЖНОСТЬ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
    Доп. точки доступа:
    Grasser, T.\ed.\

    https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-08994-2


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ???-906914)

    Шифр в сводном ЭК: c5057b3552842302b16ee270e2eedcfb



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания