Полное описание

Зубков, В. И. Методы диагностики структур наноэлектроники и фотоники : учеб. пособие / В. И. Зубков, О. В. Кучерова, А. В. Зубкова ; С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). - СПб. : ЛЭТИ, 2015. - 114 с. : ил. - (Учебное пособие). - Библиогр.: с. 111-112. - 53 экз. - ISBN 978-5-7629-1701-8. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.01.81	621.384-022.532-044.3
	621.383-044.3

Рубрики:
Наноэлектронные устройства -- Техническая диагностика
Оптоэлектронные приборы -- Техническая диагностика

Доп. точки доступа:
Кучерова, О.В.
Зубкова, А.В.
Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-15/37052)

Шифр в сводном ЭК: c4311cea2fec5c2e518fd8ae637144e8

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽