• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Foster, A. Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer ; SpringerLink (Online service). - New York, NY : Springer Science + Business Media LLC, 2006. - on-line. - (NanoScience and technology). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8. - ISBN 978-0-387-37231-0. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35

    Кл.слова (ненормированные): СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
    Доп. точки доступа:
    Hofer, W.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35/F79-151215)

    Шифр в сводном ЭК: c2ce167a17ac027cfadd05a4e7a494de



    Просмотр издания