Полное описание

Раков, С. В. Автоматизированные методы верификации структуры и анализа тестов цифровых микропроцессорных устройств : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / С. В. Раков. - Л., 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Ленингр.ин-т точной механики и оптики. Библиогр.: с. 15-16(12 назв.).

ГРНТИ	УДК
50.07.07	004.3.052.32(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР91-12992)

Шифр в сводном ЭК: c1e0d308b25d706927db30a7d1f527c9

Заказать издание
Заказ фрагмента документа