• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Li, F. CCD image sensors in deep-ultraviolet : degradation behavior and damage mechanisms / F. Li, A. Nathan. - Berlin [etc.] : Springer, 2005. - XI, 231 p. : ill. - (Microtechnology and MEMS / ed.: H. Baltes [et al.], ISSN 1439-6599). - ISBN 3-540-22680-X. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.33.33621.383.8

    Рубрики:
    Преобразователи изображений

    Доп. точки доступа:
    Nathan, A.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27386)

    Шифр в сводном ЭК: b817cbf1323c487a16ede86cde5b0c55



    Заказ фрагмента документа ₽