Полное описание

Multifractal analysis of AFM images of Nb thin film surfaces / M.V.Altaisky,L.P.Chernenko,N.S.Erokhin и др. - Moscow : [s. n.], 2000. - 21 p. : il. - (Препринт / Институт космических исследований(Москва) ; Пр-2020). - 75 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.29	538.945:539.216.2(04)

Рубрики:
Ниобиевые пленки -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ -- МЕТОД -- НИОБИЕВАЯ ПЛЕНКА
Доп. точки доступа:
Altaisky, M.V.
Chernenko, L.P.
Erokhin, N.S.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/8977/Пр-2020)

Шифр в сводном ЭК: b6b1e9c792f72c04dfb82254de35d131

Заказать издание
Заказ фрагмента документа