Полное описание

Шретер, Ю. Г. Исследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge,содержащих дислокации и границы зерен : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ-мат.наук:01.04.10 / Ю. Г. Шретер. - СПб, 1993. - 54 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН,Физ-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.: с.48-54

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР93-3209)

Шифр в сводном ЭК: b0be67d6ee402fa78768be2fbda96137

Заказать издание
Заказ фрагмента документа