Полное описание

Прокерт, Ф. Нейтронно-дифракционное изучение SrxВa1-xNb2О6 монокристаллов / Ф. Прокерт, Б. Н. Савенко, Д. Сангаа. - Дубна : [б. и.], 1989. - 7 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Р14-89-767). - 360 экз. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 6-7 (10 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.35	537.226.4:548.74(04)

Рубрики:
Сегнетоэлектрики -- Нейтронография

Кл.слова (ненормированные): НЕЙТРОНОГРАФИЯ -- СЕГНЕТОЭЛЕКТРИК
Доп. точки доступа:
Савенко, Б.Н.
Сангаа, Д.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Р14-89-767)

Шифр в сводном ЭК: a9d6cb3c746ab0fd0910d021b39b93d5

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽