Полное описание

Okada, Y. The study of imprefections in semiconductor single crystals by precise measurements of lattice parameters / Y.Okada. - Tsukuba : [s. n.], 1990. - 105 p. : ill. - (Researches / Electrotechn.lab. ; n913). - Текст : непосредственный.
Рез. англ. Библиогр.в конце ст.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4

Рубрики:
Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты

Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИК
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/1872/913)

Шифр в сводном ЭК: a046ec1a245d334b0467921d94f1a779

Заказать издание
Заказ фрагмента документа