• ВХОД

    •  

    Полное описание

    W9894/Vol.26B,N 1,1992.
     Defect recognition in semiconductors before and after processing : proc.ofthe 4th intern.conf.,18-22 March 1991,Wilmslow / Ed.: M. R. Brosel, D. J. Stirland. - Bristol : IOP publ., 1992. - 310 p. : ill. - (Transportation research:Intern.journal, ISSN 0191-2615 ; vol.26B,N 1,1992.). - Б. ц. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце статей
    Перевод заглавия: Распознавание дефектов в полупроводниках до и после обработки.Труды 4-й межд.конф.,Вилмслоу,1991
    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:548.4(063)

    Рубрики:
    Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты -- Съезды и конференции

    Доп. точки доступа:
    Brosel, M.R.\ed.\
    Stirland, D.J.\ed.\
    Экз-ры полностью W9894/Vol.26B,N 1,1992.
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)



    Заказ фрагмента документа ₽