• ВХОД

    •  

    Полное описание

    W8956/Vol.16,N 1-4,1992.
     Electron and optical beam testing of integrated circuits : proc.of the 3rd European conf.,Sept.9-11,1991,Como / ed. M. Melgara. - Amsterdam : Elsevier , 1992. - XII,534 с с : il. - (Microelectronic engineering, ISSN 0167-9317 ; vol.16,N 1-4,1992.). - Б. ц. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце статей
    Перевод заглавия: Испытание интегральных схем с помощью электронного и оптического пучков.Труды 3-й европ.конф.,,1991
    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.77.001.4(063)

    Рубрики:
    Интегральные схемы -- Испытание -- Съезды и конференции

    Доп. точки доступа:
    Melgara, M.\ed.\
    Экз-ры полностью W8956/Vol.16,N 1-4,1992.
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)



    Заказ фрагмента документа ₽