Полное описание

W2806/2000,Vol.39,N 6B
Scanning probe microscopy : 7th Intern. colloquium on scanning probe microscopy was held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from Dec.9-11, 1999 / Ed. M. Yoshimura. - Tokyo : Jap. soc. of appl. phys., 2000. - 3701-3833 p. p. : ill. - (Japanese journal of applied physics.Pt.1.Regular papers, short notes & review papers, ISSN 0021-4922 ; 2000,Vol.39,N 6B). - Б. ц. - Текст : непосредственный.
Библиогр. в конце ст. Указ. в конце кн.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35(063)

Рубрики:
Микроскопия электронная -- Съезды и конференции

Кл.слова (ненормированные): электронная микроскопия
Доп. точки доступа:
Yoshimura, M.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽