Полное описание

W243/Vol.14,N 5,1995
VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York). Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VTS'94 ; VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) . - New York, 1995. - 529-649 p. p. : ill. - (IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, ISSN 0278-0070 ; vol.14,N 5,1995). - Б. ц. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце статей

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14.001.4(063)

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Испытание -- Съезды и конференции

Доп. точки доступа:
Maly, W.\ed.\
Zorian, Y.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽