Полное описание
>
X-ray topography and high-resolution diffraction : 2nd European symposium on X-ray topography and high-resolution diffraction,held 0n 5-7 Sept.1994,Berlin / Ed.: R. Kohler, H. Klapper. - Bristol, 1995. - 300 p. : ill. - (Journal of physics D:applied physics, ISSN 0022-3727 ; vol.28,N 4A,1995). - Б. ц. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце статей
ГРНТИ | УДК | |
29.19.19 | 548.73(062) | |
548.4(062) |
Рубрики:
Рентгеноструктурный анализ -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа:
Kohler, R.\ed.\
Klapper, H.\ed.\
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
Заказ фрагмента документа ₽