Полное описание

R/9393/203
Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy : proc.of a NATO advanced research workshop on the evaluation of advanced semiconductor materials held Sept.12-17,1988 in Bristol / Ed. D. Cherns. - New York, NY ; London : Plenum press, 1989. - XI,412 p. p. : ill. - (NATO advanced study institutes series. Ser.B, Physics ; vol.203). - ISBN 0-306-43362-1 : 65.55 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце ст.Указ.:с.409-412

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:620.186(063)

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования -- Съезды и конференции

Кл.слова (ненормированные): полупроводник
Доп. точки доступа:
Cherns, D.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽