Полное описание
>
Automated inspection and high speed vision architectures : proc.of the meet. 3-4 Nov.1987, Cambridge(Ma) / сост.ed. M. J.W. Chen, сост.ed. J. Ahlers. - Bellingham(Wa) : [s. n.], 1988. - VI, 274 p. 274 p. : ill. - (Proceedings / Soc.of photo-optical instrumentation engineers ; vol.849). - ISBN 0-89252-884-2 : 30.56 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце ст. Указ.:с.274
ГРНТИ | УДК | |
81.81 | 658.562:004(062) | |
004.93(062) |
Рубрики:
Технический контроль автоматический -- Съезды и конференции
Машинное зрение -- Съезды и конференции
Кл.слова (ненормированные): автоматический технический контроль -- машинное зрение
Доп. точки доступа:
Chen, M.J.W.\comp.\
Ahlers, J.\comp.\
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:
Заказ фрагмента документа ₽