Полное описание
>
Sahoo, N. K. Non-destructive characterization techniques for rapid optical and structural analysis of dielectric thin films / N.K.Sahoo,K.V.S.R.Apparao. - Bombay : [s. n.], 1993. - 47 p. : ill. - (Publication / BARC ; 1993/E/014). - 100 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.44,47
ГРНТИ | УДК | |
47.35.31 | 621.315.61-416 | |
45.09.37 | 621.373.826.038.8 |
Рубрики:
Лазеры -- Оптические системы
Диэлектрические пленки
Доп. точки доступа:
Apparao, K.V.S.R.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽