Полное описание

R/6140/1993/E/002
Apparao, K. V.S.R. A new technique of measuring trace absorption of optical thin films / K.V.S.R.Apparao,N.K.Sahoo. - Bombay : [s. n.], 1993. - 18 p. : ill. - (Publication / BARC ; 1993/E/002). - 100 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.18

ГРНТИ	УДК
47.35.31	681.7.064.45.055
47.03.11	621.373.826.038.8

Рубрики:
Оптические покрытия -- Параметры -- Измерение
Лазеры -- Оптические системы

Доп. точки доступа:
Sahoo, N.K.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽