Полное описание

R/3812/B 571
Siemer, K. Schichtwachstum und elektronische Defekteigenschaften von CuInS2-Absorberschichten aus dem sequentiellen Prozess : Diss. / K.Siemer. - Berlin : [s. n.], 2000. - 134 S. : Ill. - (Berichte / Hahn-Meitner-Inst., ISSN 1431-4940 ; B 571). - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с.128-134

ГРНТИ	УДК
44.41.35	621.383.51.002(043)

Рубрики:
Солнечные батареи -- Производство

Кл.слова (ненормированные): солнечная батарея
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽