Полное описание
>
Krauser, J. Wasserstoff im MOS-System:Bestimmung der Konzentration,Verteilung und Dynamik des Wasserstoffs mit Hilfe der 15N-Methode : Diss. / J.Krauser. - Berlin : [s. n.], 1996. - 169 S. : Ill. - (Berichte / Hahn-Meitner-Inst., ISSN 1431-4940 ; B 535). - Текст : непосредственный.
Рез.англ.Библиогр.:с.137-153
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.382(043) |
Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования
Кл.слова (ненормированные): полупроводник>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽