Полное описание

R/3812/B 506
Camus, E. Statische Auswertung von FIM-AP-Tiefenprofilen / E.Camus,C.Abromeit. - Berlin : [s. n.], 1993. - 55 S. : Ill. - (Berichte / Hahn-Meitner-Inst., ISSN 1431-4940 ; B 506). - 50 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
53.49.19	669.017:620.187

Рубрики:
Микроскопия ионная
Металлография электронная

Доп. точки доступа:
Abromeit, C.

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽