Полное описание

R/1872/913
Okada, Y. The study of imprefections in semiconductor single crystals by precise measurements of lattice parameters / Y.Okada. - Tsukuba : [s. n.], 1990. - 105 p. : ill. - (Researches / Electrotechn.lab., ISSN 0366-9106 ; n913). - 2.00 р. - Текст : непосредственный.
Рез. англ. Библиогр.в конце ст.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4

Рубрики:
Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты

Кл.слова (ненормированные): полупроводник
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (2)
Свободны: ХР (2)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽