• ВХОД
  •  

    Полное описание

    R/18267/282
    Diffusion and defect forum. - Stafa-Zurich : Trans tech publ., 20 - . - ISSN 1012-0386. - Текст : непосредственный.
    Vol. 282 : Defects and diffusion in semiconductors - An annual retrospective XI - / ed. D. J. Fisher. - 2008. - VIII, 176 p. : ill. - Библиогр. в конце разд. Указ. с.: 145-176. - ISBN 978-3-908451-63-1 : 5033.00 р.
    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:548.4
    537.311.322:539.219.3

    Рубрики:
    Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты
    Полупроводники -- Диффузия

    Доп. точки доступа:
    Fisher, D. J.\ed.\
    Экз-ры полностью R/18267/282
    Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
    Свободны: ХР (1), (1)
    Копия:



    Заказ фрагмента документа ₽