Полное описание

R/18259/37
Frontiers in electronic testing-FRET / ed. V. Agrawal. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 20 - . - Текст : непосредственный.
Vol. 37 : Emerging nanotechnologies: Test, defect tolerance, and reliability / ed. M. Tehranipoor. - 2008. - XII, 405 p. : ill. - Библиогр. в конце частей. Указ.: с. 399-405. - ISBN 978-0-387-74746-0 : 5212.01 р.

ГРНТИ	УДК
81.13	620.3

Рубрики:
Нанотехнологии

Доп. точки доступа:
Agrawal, V.\ed.\
Tehranipoor, M.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽