Полное описание

R/18220/2
Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York, NY : Springer, 2007 - . - Текст : непосредственный.
Vol. 2. - 2007. - XX, p. 561-980 : il. - Указ.: с. 974-980. - 2089.27 р.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Доп. точки доступа:
Kalinin, S.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽