Полное описание
>
Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. - Berlin[etc.] : Springer, 20 - . - Текст : непосредственный.
8 : Scanning probe microscopy techniques. - 2008. - LIX, 465 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 451-465. - ISBN 978-3-540-74079-7 : 8918.53 р.
ГРНТИ | УДК | |
29.35.43 | 537.533.35 |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Доп. точки доступа:
Bhushan, B.\ed.\
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:
Заказ фрагмента документа ₽