Полное описание

R/18103/220
NATO science series. Sub-ser.II, Mathematics, physics and chemistry : материалы временных коллективов. - Dordrecht [etc.] : Kluwer. - Текст : непосредственный.
Vol. 220 : Defects in hugh-k gate dielectric stacks : proc. of the NATO advanced research workshop on defects in hugh-k gate dielectric stacks, St Petersburg, Jul.11-14, 2005 / NATO advanced research workshop on defects in high-k gate dielctric stacks (2005; St. Petersburg) ; Ed.: E.Gusev; Ed.:et al. - Dordrecht [etc.] : Kluwer, 2006. - X, 492 p. : ill. - ISBN 1-4020-4365-1 : 10000.00 р.

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382.004.6(063)

Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Дефекты -- Съезды и конференции

Доп. точки доступа:
Gusev, E.\ed.\
et al.\ed.\
NATO advanced research workshop on defects in high-k gate dielctric stacks (2005 ; St. Petersburg)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽