Полное описание
>
A two-level approach to automated conformance testing of VHDL designs / J.R.Moonen,J.M.T.Romijn,O.Sies и др. - Amsterdam : [s. n.], 1997. - 15 p. : ill. - (Report:Software engineering / CWI, ISSN 1386-369X ; SEN-R9707). - 3000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: c.14-15
ГРНТИ | УДК | |
50.41.25 | 004.415.53 |
Рубрики:
Математическое обеспечение автоматизированных систем
Кл.слова (ненормированные): математическое обеспечение
Доп. точки доступа:
Moonen, J.R.
Romijn, J.M.T.
Sies, O.
Springintveld, J.G.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽