Полное описание

R/17669/6314
Spatially-resolved x-ray spectroscopy at CAMD = Ortsaufgel@:oste R@:ontgenspektroskopie am CAMD (Загл. нем.) : diss. / N.M@:olders,H.O.Moser,V.Saile,P.J.Schilling. - Karlsruhe : [s. n.], 1999. - 96 p. : ill. - (Wissenschaftliche Berichte / FZKA, ISSN 0947-8620 ; 6314). - Текст : непосредственный.
Парал. загл. нем. Рез. нем. Библиогр.: с.91-96

ГРНТИ	УДК
47.13.11	621.3.049.75.002(043)

Рубрики:
Фоторезисты -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): фоторезист
Доп. точки доступа:
Molders, N.
Moser, H.O.
Saile, V.
Schilling, P.J.

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽