Полное описание
>
Fanghanel, E. Bestimmung von Spurenelementen in simulierten hochaktiven Abfallglasern mittels Laserablation-ICP-Massenspektrometrie / E.Fangh@:anel,K.Gompper,H.Geckeis. - Karlsruhe : [s. n.], 1997. - 36 S. : Ill. - (Wissenschaftliche Berichte / FZKA, ISSN 0947-8620 ; 5875). - 10000 р. - Текст : непосредственный.
Рез.англ.Библиогр.: c.32-36
ГРНТИ | УДК | |
58.91.31 | 621.039.73 |
Рубрики:
Радиоактивные отходы жидкие -- Обработка
Кл.слова (ненормированные): жидкие радиоактивные отходы
Доп. точки доступа:
Gompper, K.
Geckeis, H.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:
Заказ фрагмента документа ₽