Полное описание

R/17611/2002-005
Recognition of DNA damage as onset of successful repair : proc. of the workshop, Tokai, Dec.18-19, 2001 / Ed. M. Pinak. - Tokyo : [s. n.], 2002. - IV, 201 p. 201 p. : ill. - (Conferences/JAERI-conf. ; 2002-005). - 40.00 р. - Текст : непосредственный.
Рез.англ.,яп. Библиогр.в конце ст.

ГРНТИ	УДК
34.15.27	575(063)

Рубрики:
Генетическая инженерия -- Съезды и конференции

Доп. точки доступа:
Pinak, M.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽