Полное описание

R/17401/93/207
Origin of rheed intensity oscillations during the growth of (Y,Dy)Ba2Cu3O7-x thin films / V.S.Achutharamam,N.Chandrasekhar,O.T.Valls,A.M.Goldman. - Minneapolis(Mn) : [s. n.], 1993. - 21 p. : ill. - (UMSI research report / Univ.of Minnesota ; 93/207). - 100 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.10-11

ГРНТИ	УДК
29.19.29	538.945:539.216.2

Рубрики:
Сверхпроводящие пленки -- Производство

Доп. точки доступа:
Achutharamam, V.S.
Chandrasekhar, N.
Valls, O.T.
Goldman, A.M.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽