• ВХОД

    •  

    Полное описание

    R/17401/2002/54
     Zhan, Q. Measuring unresolved surface features using imaging ellipsometric polarization signatures / Q.Zhan,J.R.Leger. - Minneapolis(Mn) : [s. n.], 2002. - 3 p. : ill. - (UMSI research report / Univ.of Minnesota ; 2002/54). - 10.00 р. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:c. [3]
    ГРНТИ УДК
    90.27.37681.785.35

    Рубрики:
    Эллипсометрия

    Доп. точки доступа:
    Leger, J.R.
    University of Minnesota (Minneapolis, Mn). Supercomputer institute
    Экз-ры полностью R/17401/2002/54
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)



    Заказ фрагмента документа ₽