Полное описание

R/17401/2001/165
Ogut, S. Ab initio investigation of point defects in bulk Si and Ge using a cluster method / S.Ogut,J.R.Chelikowsky. - Minneapolis(Mn) : [s. n.], 2001. - 11 l. : ill. - (UMSI research report / Univ.of Minnesota ; 2001/165). - 20.00 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце кн.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4

Рубрики:
Кремний -- Кристаллы -- Дефекты
Германий -- Кристаллы -- Дефекты

Кл.слова (ненормированные): кремний -- германия
Доп. точки доступа:
Chelikowsky, J.R.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽