Полное описание

R/17226/96-18
Characterization of an ONO-stacked insulator film for a silicon micro-strip detector : submitted to Nucl.Instrum.Methods,A / S.Okuno,H.Ikeda,Y.Saitoh и др. - Tsukuba : [s. n.], 1996. - 34 p. : ill. - (KEK preprint / Nat.lab.for high energy physics ; 96-18). - 3000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.12-13

ГРНТИ	УДК
29.15.39	539.1.074.55

Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые

Доп. точки доступа:
Okuno, S.
Ikeda, H.
Saitoh, Y.
Akamine, T.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽