Полное описание

R/17226/96-172
Measurement of the spatial resolution of wide-pitch silicon strip detectors with large incident angle / T.Kawasaki,M.Hazumi,Y.Nagashima и др. - Tsukuba : [s. n.], 1997. - 13 p. : ill. - (KEK preprint / Nat.lab.for high energy physics ; 96-172). - 2000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.10

ГРНТИ	УДК
29.15.39	539.1.074.55

Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые

Доп. точки доступа:
Kawasaki, T.
Hazumi, M.
Nagashima, Y.
Senyo, K.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽