Полное описание

R/17226/94-195
Total-dose effects of y-ray irradiation on SOI-MOS transistors : submitted to Nucl.instrum.meth.,A. / T.Matsushita,C.Fukunaga,H.Ikeda,Y.Saitoh. - Tsukuba : [s. n.], 1995. - 18 p. : ill. - (KEK preprint / Nat.lab.for high energy physics ; 94-195). - 1000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.8-9

ГРНТИ	УДК
29.15.39	539.1.074.55

Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые -- Влияние ионизирующих излучений

Доп. точки доступа:
Matsushita, T.
Fukunaga, C.
Ikeda, H.
Saitoh, Y.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽