Полное описание

R/17226/94-186
Cooling test and thermal simulation of silicon microstrip detector for high luminosity operation / K.Kohriki,T.Kondo,H.Iwasaki и др. - Tsukuba : [s. n.], 1995. - 6 p. : ill. - (KEK preprint / Nat.lab.for high energy physics ; 94-186). - 100 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.5

ГРНТИ	УДК
29.15.39	539.1.074.55

Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые

Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые детекторы
Доп. точки доступа:
Kohriki, K.
Kondo, T.
Iwasaki, H.
Terada, S.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽