Полное описание

R/17226/93-127
Beam test of the SDC double-sided silicon strip detector : presented at the IEEE 1993 nuclear science symp.,Nov.2-6 1993,San Francisco(Ca) / Y.Unno,F.Hinode,T.Akagi и др. - Tsukuba : [s. n.], 1993. - 5 p. : ill. - (KEK preprint / Nat.lab.for high energy physics ; 93-127). - 100 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.5

ГРНТИ	УДК
29.15.39	539.1.074.55

Рубрики:
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые

Доп. точки доступа:
Unno, Y.
Hinode, F.
Akagi, T.
Kohriki, T.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽