Полное описание
>
Consideration of fluctuation in secondary beam intensity of heavy ion beam probe measurements / A.Fujisawa,H.Iguchi,S.Lee,Y.Hamada. - Nagoya : [s. n.], 1997. - 15 p. : /3/ l.ill. - (Research report NIFS series / Nat.inst.for fusion science, ISSN 0915-633X ; 475). - 2000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.13
ГРНТИ | УДК | |
29.27.49 | 621.039.66 |
Рубрики:
Плазма -- Методы исследования
Доп. точки доступа:
Fujisawa, A.
Iguchi, H.
Lee, S.
Hamada, Y.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (2)
Свободны: ХР (2)
Заказ фрагмента документа ₽