Полное описание

R/15815/73
Cheng, K. -T. Unified methods for VLSI simulation and test generation / K.-T.Cheng,V.D.Agrawal. - Boston, Ma [etc.] : Kluwer acad. publ., 1989. - XII,148 p. p. : ill. - (The Kluwer international series in engineering and computer science ; 73). - ISBN 0-7923-9025-3 : 33.04 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.113-143.Указ.:с.145-148

ГРНТИ	УДК
47.33.37	621.3.049.771.14

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Испытание
Интегральные схемы большие -- Моделирование

Доп. точки доступа:
Agrawal, V.D.

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽