Полное описание
>
Avset, B. S. Measurements and characterization of a hole trap in neutron-irradiated silicon / B.S.Avset. - Oslo : [s. n.], 1996. - 42 p. : ill. - (Rapport / Univ.i Oslo, ISSN 0332-5571 ; 96-07). - 10000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.40-42
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:539.16 |
Рубрики:
Кремний -- Влияние ионизирующих излучений
Кл.слова (ненормированные): кремний>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽