Полное описание
>
Untersuchung kommerzieller Halbleiter-Dioden zur Hochdosisleistungs- Messung / L.Breitenhuber,K.Duftschmid,P.Kindl и др. - Seibersdorf : [s. n.], 1992. - 13 S. - (OEFZS Berichte / OEFZS, ISSN 0253-5270 ; 4663). - 10.00 р. - Текст : непосредственный.
Рез.англ.Библиогр.:с.13
ГРНТИ | УДК | |
59.43.31 | 612.014.482:539.1.07 |
Рубрики:
Дозиметры
Кл.слова (ненормированные): дозиметр
Доп. точки доступа:
Breitenhuber, L.
Duftschmid, K.
Kindl, P.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:
Заказ фрагмента документа ₽