• ВХОД

    •  

    Полное описание

    R/12426/655
     Instytut podstaw informatyki (Warszawa).
    Prace / Inst. podstaw informatyki. - Warszawa : [s. n.]. - ISSN 0138-0648. - Текст : непосредственный.
    655 : Wplyw liniowych sprzezen zwrotnych na skutecznosc analizy sygnaturowej uszkodzen / A.Hlawiczka,K.Mostowski. - Warszawa : [s. n.], 1989. - 63 s. : il. - 2.00 р.
    Перевод заглавия: Влияние линейных обратных связей на эффективность сигнатурного анализа ошибок
    ГРНТИ УДК
    50.01.81004.382.7.052.32

    Рубрики:
    Микро-ЭВМ -- Автоматический поиск неисправностей

    Кл.слова (ненормированные): сигнатурный анализ ошибок
    Доп. точки доступа:
    Mostowski, K.
    Экз-ры полностью R/12426/655
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)



    Заказ фрагмента документа ₽