Полное описание

R/11911/239
A new quantitative anomalous X-ray scattering method for the structural analysis of amorphous thin films / E.Matsubara,Y.Waseda,M.Mitera,T.Masumoto. - Sendai : [s. n.], 1989. - 704 p. : ill. - (The science report / Research institute for electric and magnetic materials(Sedai) ; n239). - 0.50 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр. в конце кн. Repr. from materials trans. of the Japan inst. of metals Vol.29(1989) N 9,756-766

ГРНТИ	УДК
29.19.16	539.216.2:548.73

Рубрики:
Аморфные пленки

Доп. точки доступа:
Matsubara, E.
Waseda, Y.
Mitera, M.
Masumoto, T.

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽