Полное описание

R/11492/172
Elektronika : pr. nauk. / Politech. Warszawska. - Warszawa : Wydaw. politech. Warszawskiej, 19? - . - ISSN 0137-2343. - Текст : непосредственный.
z. 172 : Analiza topografii ukladow scalonych VLSI pod katem ich produkowalnosci / W. A. Pleskacz. - 2009. - 119 s. : il. - Рез. англ. - Библиогр.: с. 107-116 (154 назв.). - Б. ц.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14.001.2

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Проектирование

Доп. точки доступа:
Politechnika Warszawska

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽