Полное описание
>
Mikrofalowe reflektometry trojwrotowe na pasmo lis / T. Morawski, J. Zborowska, M. Sypniewski, C. Mroczkowski. System pomiarowy do badania wlasnosci dielektrykow i ferrytow w pasmie mikrofalowym / J. Modelski, S Dmowski, J. Krupka. Translacja formatow opisu struktur VLSI / R. Pawlowski, L. Znamirowski ; T.Morawski,J.Zborowska,M.Sypniewski,C.Mroczkowski. - Warszawa : [s. n.], 1994. - 101 s. : ill. - (Elektronika:Prace naukowe / Politech.Warszawska, ISSN 0137-2343 ; z.101). - 200 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр. в конце статей.
ГРНТИ | УДК | |
29.35.23 | 621.317.7:621.396.029.6 | |
45.09.37 | 621.315.61.029.6 | |
61.69.41 | 621.318.13.029.6 | |
621.3.049.771.14.001.2-52 |
Рубрики:
Рефлектометры
Диэлектрики
Ферриты СВЧ
Интегральные схемы большие -- Проектирование -- Автоматизация
Доп. точки доступа:
Modelski, J.
Pawlowski, R.
Dmowski S
Znamirowski, L.
Krupka, J.
Morawski, T.
Zborowska, J.
Sypniewski, M.
Mroczkowski, C.
Politechnika Warszawska
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽