Полное описание

Q/5459/84
Richter, R. Mikrocharakterisierung und-strukturierung von GaAs(100)-Oberflachen und deren Metallisierungen / R.Richter. - Dusseldorf : VDI, 1991. - VII,154 S. S. : Ill. - (Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 21, Elektrotechnik / Verein Dt.Ing., ISSN 0178-9481 ; N84). - ISBN 3-18-148421-0 : 50000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.138-154

ГРНТИ	УДК
47.33	621.315.592(043)

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽