Полное описание

ODM/248
Pecharsky, V. K. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / V. K. Pecharsky, P. Y. Zavalij. - Электрон. текстовые дан. - New York, NY [etc.] : Springer, 2005. - 1 электрон. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: операц. система Microsoft Windows 2000/ХР/Vista ; процессор Pentium 700 Мгц ; 512 Мб оператив. памяти ; мышь. - Загл. с этикетки диска. - .
Издание является приложением к документу:
Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials. -2005. Шифр J2/28273

ГРНТИ	УДК
81.09.03	620.22:539.22(086.82)

Рубрики:
Материалы -- Структура

Доп. точки доступа:
Zavalij, P. Y.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽